用于探測蒙皮疊邊中裂紋的檢測方案利用*先進的ECA技術(shù)探測材料表面以下的缺陷。C掃描的應(yīng)用可保證更高的探出率及更好的再現(xiàn)性。在減少檢測時間方面,這個解決方案可謂是一個巨大的進步。